搜索關(guān)鍵詞:IP防護(hù)等級(jí)試具,IP防水防塵試驗(yàn)設(shè)備,晶振測(cè)試儀
IEC/EN60529防塵分為7個(gè)等級(jí)(等級(jí)0 ~ 等級(jí)6),防水區(qū)分為9個(gè)等級(jí)(等級(jí)0 ~ 等級(jí)8)在試驗(yàn)應(yīng)用上通常以IPXX作為等級(jí)區(qū)分,IP為International Protection 的縮寫,國(guó)際上均以此做為保護(hù)等級(jí)辨識(shí),第1個(gè)X所代表的意義為防塵等級(jí),第2個(gè)X所代表的意義為防水等級(jí)。若產(chǎn)品標(biāo)示為IP54,則表示產(chǎn)品防塵等級(jí)為5,防水等級(jí)為4。
第1位數(shù)字防塵試驗(yàn):
防塵等級(jí)(e.g. IP5X-防塵等級(jí)5)
Level 0:*無(wú)防塵保護(hù)。
Level 1:可保護(hù)避免直徑大于50㎜之異物掉入設(shè)備內(nèi)(直徑50㎜圓球狀測(cè)試棒不得*掉入外殼內(nèi))。
Level 2:可保護(hù)避免直徑大于12㎜之異物掉入設(shè)備內(nèi)(直徑12.5㎜圓球狀測(cè)試棒不得*掉入外殼內(nèi))。
Level 3:可保護(hù)避免直徑大于2.5㎜之異物掉入設(shè)備內(nèi)(直徑2.5㎜測(cè)試棒不得整個(gè)掉入外殼內(nèi))。
Level 4:可保護(hù)避免直徑大于1㎜之異物掉入設(shè)備內(nèi)(直徑1㎜測(cè)試棒不得整個(gè)掉入外殼內(nèi))。
Level 5:部分防塵(有部分防塵作用,但不得因落入之灰塵影響正常功能運(yùn)作或降低產(chǎn)品安全性)。
Level 6:*防塵(不得有灰塵掉入外殼內(nèi))。
IP外殼防護(hù)類試驗(yàn)探棒清單
IEC61032探針
1、試具A探針
3、試具C探針
4、試具D探針
5、試具1鋼球
6、試具2鋼球
7、試驗(yàn)直指
8、試驗(yàn)長(zhǎng)銷
9、試驗(yàn)銷
10、試具14
11、試具17
12、兒童試驗(yàn)指
13、試具31
14、試具32
15、試驗(yàn)棒
16、試具43
UL試驗(yàn)探針
1、UL試驗(yàn)指
2、UL探頭
3、漆包線探針
4、移動(dòng)部件探頭
5、錐探頭
6、方探頭
7、三角探頭
8、圓探頭
9、風(fēng)扇葉片探頭
10、鈍探頭
11、UL試驗(yàn)銷
12、足形探具
13、刀片探針
14、楔形探棒
15、防觸電探針試驗(yàn)裝置
其他標(biāo)準(zhǔn)探針
1、試驗(yàn)鉤
2、帶推力試驗(yàn)探針
3、試驗(yàn)指甲
4、天線同軸試驗(yàn)插頭
5、試驗(yàn)探頭
12、直徑8mm試驗(yàn)探棒
16、直徑75mm球體試驗(yàn)探棒
15、劃痕探針
8、直徑4mm試驗(yàn)探棒
7、直徑3mm試驗(yàn)探棒
11、扁平探針
6、小探針
13、測(cè)試棒
14、測(cè)溫探針
3、直徑40mm試驗(yàn)探棒
10、刮擦針
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